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XRD平板探测器,X射线数字成像检测系统是基于8英寸非晶硅传感器的二维光电二极管阵列,具有200微米像素尺寸,接收区域200mm*200mm,X射线通过闪烁屏转换为光电子并被光电二极管转化为数字信号,16位数字化信息可实现高动态范围及对比度,使检测图像边界轮廓清晰。
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XRD 0822 AP X射线数字平板探测器是基于8英寸非晶硅传感器的二维光电二极管阵列,具有200微米像素尺寸,成像区域200mm*200mm,X射线通过闪烁屏转换为光电子并被光电二极管转化为数字信号,16位数字化信息可实现高动态范围及对比度,使检测图像边界轮廓清晰、质量媲美胶片。
XRD 0822 AP X射线数字平板探测器具有检测速度快(非像素合并时帧速可达25fps)、可接收320kV的X射线直接照射等特点,被广泛应用于工业领域X射线检测。
技术参数
● 面板 转换屏 DRZ-PLUS
像素数目 1024×1024
像素间距 200µm
动态范围 ≥88db
灰度等级 65536(16bit)
帧速度 25fps @200µm
50fps @400µm
能量范围 20~450Kev
● 电子设备 电荷放大器 8×128通道ASIC
增益调节 0.25/0.5/1/2/4/8pF共6级可设置
ADC转换 16bit
非线性 ≤1%